激光粒度仪主要依据Fraunhofer 衍射和Mie散射两种光学理论。下面就激光粒度仪散射理论的发展历史作简要阐述：

散射理论的研究开始于上一世纪的70年代。1871年，瑞利(Lord Rayleigh)首先提出了的瑞利散射定律，并用电子论的观点解释了光散射的本质。瑞利散射定律的适用条件是散射体的尺寸要比光波波长小。1908年，米氏(G. Mie)通过电磁波的麦克斯韦方程，解出了一个关于光散射的严格数学解，得出了任意直径、任意成分的均匀粒子的散射规律，这就是的米氏理论。1957年， H. C. Van de Hulst 出版了关于微小粒子光散射现象的专著，总结了粒子散射的普遍规律，受到科技界人士的广泛注意，这本专著被认为是光散射理论领域的经典文献。1969年，M . Kerker 系统论述了光及电磁波散射的一般规律，为散射理论的进一步发展做出了贡献。1983年，C. F. Bo hren ，O. R. Huff man综合前人的成果，又发表了关于微小粒子对光散射及吸收的一般规律，更地解释了光的各种散射现象。至此，散射理论的体系建立起来了。

1976年J . Swit henbank 等人利用米氏理论在时( d为散射粒子的直径，λ为光波波长)的近似式 ——夫琅和费(Franhofer)衍射理论发展了激光粒度仪，开辟了散射理论在计量测试中的又一新领域。由于光散射法适用范围宽，测量时不受颗粒光学特性及电学特性参数的影响，因此在随后的三十年时间内已成为粒度计量中为重要的方式之一。