粒度分布是粉体*的一种性质，也是决定粉体行为与属性的重要物理性质。因此，在处理粉体时必须进行粒度分布的分析。常用的粒度分析仪有涂料粒度分析仪、超声粒度分析仪、消光法光学沉积仪及X射线沉积仪等，其中涂料粒度分析仪测量方便快捷、重现性高，能很好的测出样品的粒度分布曲线和集中度，越是球状颗粒，测量的越，因而广泛适用于材料、化工、精细陶瓷、造纸、化妆品、冶金等以颗粒物作为生产原料的行业。

　　实现对1um以下及宽粒径范围(几十纳米到几千微米)的样品的测量是涂料粒度分析仪的技术关键，概况起来，目前有以下几种技术和光路配置被采用：

　　1、多透镜技术

　　多透镜系统曾在二十世纪八十年代前被广泛采用，它使用傅里叶光路配置即样品池放在聚焦透镜的前方，配有多个不同焦距的透镜以适应不同的粒径范围。优点是设计简单，只需要分布于几十度范围的焦平面检测器，成本较低。缺点是如果样品粒径范围宽的时候需要更换透镜，不同透镜的结果需要拼合，对一些未知粒径的样品用一个透镜测量时可能会丢失信号或对于由于工艺变化导致的样品粒径变化不能及时反映。

　　2、多光源技术

　　多光源技术也是采用傅里叶光路配置即样品池在聚焦透镜的前方，一般只有分布于几十度角度范围的检测器，为了增大相对的检测角度，使该检测器能够接收到小颗粒的衍射光信号，在相对于一光源光轴的不同角度上再配置一或第二激光器。这种技术的优点是只需分布于几十度角度范围的检测器，成本较低，测量范围特别是上限可以比较宽。若要同时几微米以下小颗粒的测量，需要更换短焦距的聚焦透镜。另外，多透镜系统在测量样品时，不同的激光器是依次开启，而在干法测量时，由于颗粒只能一次性通过样品池，只有一个光源能被用于测量，所以一般采用多透镜技术的干法测量的粒径下限很难低于250纳米。

　　希望上述内容能够帮助大家更好的了解本分析仪。