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- 稀土粒径分析仪
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稀土材料的物理性能对其应用性能有着重要的影响，而颗粒的尺寸大小和分布参数与颗粒的特性密切相关，因此稀土粉体颗粒测试方法还有测试技术是颗粒研究的一个重要方面。也是稀土产品物性指标控制中的一个关键的技术内容。当前，测定颗粒粒度的方法还有装置很多，但是由于其对粒径测定的原理各不相同，因此对于同一种物料用不同的方法测试，所得的结果可能也会有所不同。即使是对于同一种物料用同一种方法，但是由于操作者不同，也可能会得到一个相差较大的结果。稀土粒径分析仪对颗粒粒度的分析具有快速、、便捷、工作状态可靠、重复性好的特点，因而得以迅速推广使用。同样，虽然仪器本身对测定结果的影响很小，但样品的分散条件、物料的性质以及操作条件的选择等，都对测定结果有很大的影响。
稀土粒径分析仪技术指标
项目
指标
测量原理
激光衍射
光学模型
全量程米氏理论及夫朗霍夫理论可选
粒径范围
0.02μm -3600μm，无需更换透镜，不依赖标样校准
检测系统
包含格栅式超大角度，非均匀交叉面积补偿检测器阵列，全测量角度范围无盲区
光源
集成恒温系统的638nm, 20mW固体激光器
空间滤波方式
偏振滤波技术
光学对中系统
智能全自动
测量时间
典型值小于10秒
测量速度
20000次/秒
度
Dv50优于±0.6% （NIST可溯源乳胶标样）
重复性
Dv50优于±0.5% （NIST可溯源乳胶标样）
激光安全
1类激光产品
计算机配置
In i5处理器，4GB内存，250GB硬盘，鼠标，键盘和宽屏显示器
计算机接口
USB2.0
软件运行平台
Windows 7版或以上版
操作环境温度
5℃ - 40℃
操作环境湿度
10% - 85%相对湿度（无结凝）
电源要求
交流220V, 50Hz – 60Hz, 标准接地
光学系统重量
26kg
光学系统尺寸
636mm x275mm x320mm