- 陶瓷粉末粒度分析仪参数
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陶瓷粉末粒度分析仪
粒度分布是粉体*的一种性质,也是决定粉体行为与属性的重要物理性质。因此,在处理粉体时必须进行粒度分布的分析。常用的粒度分析仪有激光粒度分析仪、超声粒度分析仪、消光法光学沉积仪及X射线沉积仪等,其中激光粒度分析仪测量方便快捷、重现性高,能很好的测出样品的粒度分布曲线和集中度,越是球状颗粒,测量的越,因而广泛适用于材料、化工、制药、精细陶瓷、造纸、化妆品、冶金等以颗粒物作为生产原料的行业,以及中间体的实验室分析和工业生产中质量控制等诸多领域。
陶瓷粉末粒度分析仪是真理光学技术团队基于二十多年粒度表征和应用经验开发的新一代粒度分析系统,该系统加持多项创新技术和,测量速度高达每秒20000次,而且Hydrolink分散进样器更是采用了双电机驱动,内置高效率超声,强力搅拌和离心循环泵分开独立控制,适用于各种类型的复杂样品,对于密度大和分布宽的金属粉末和硬质合金等样品,也能轻松分散和进样并获得可靠的高重现性结果。陶瓷粉末粒度分析仪适用于水泥、陶瓷、药品、涂料、树脂、染料、颜料、填料、化工产品、催化剂、煤粉、泥砂、粉尘、面粉、食品、添加剂、农药、石墨、感光材料、燃料、金属与非金属粉末、碳酸钙、高岭土及其他粉体行业。
陶瓷粉末粒度分析仪的技术参数包括:
项目
指标
测量原理
激光衍射
光学模型
全量程米氏理论及夫朗霍夫理论可选
粒径范围
0.02μm -3600μm,无需更换透镜,不依赖标样校准
检测系统
包含格栅式超大角度,非均匀交叉面积补偿检测器阵列,全测量角度范围无盲区
光源
集成恒温系统的638nm, 20mW固体激光器
空间滤波方式
偏振滤波技术
光学对中系统
智能全自动
测量时间
典型值小于10秒
测量速度
20000次/秒
度
Dv50优于±0.6% (NIST可溯源乳胶标样)
重复性
Dv50优于±0.5% (NIST可溯源乳胶标样)
激光安全
1类激光产品
计算机配置
In i5处理器,4GB内存,250GB硬盘,鼠标,键盘和宽屏显示器
计算机接口
USB2.0
软件运行平台
Windows 7版或以上版
操作环境温度
5℃ - 40℃
操作环境湿度
10% - 85%相对湿度(无结凝)
电源要求
交流220V, 50Hz – 60Hz, 标准接地
光学系统重量
26kg
光学系统尺寸
636mm x275mm x320mm